ESDは半導体製品の主要不良原因の内の一つで、電位が違う異なる2つの物体が接触しながら瞬間的に電荷が移動するという現象です。
人体はいくつかの方式で電荷を得たり消失したりしますが、よく知られている摩擦電気を通してこのような現象がよく表れます。
従って製品が上記のような現象で不良が発生する場合を最小化しようと、製品の販売前に試験を進行することをまさに正電気試験(ESD)と言います。
-正電気(ESD)試験方法-
1)空気中放電法(Air Discharge Method)
-正電気放電発生器の充電された電極を被試験機器に近接時につけた状態で被試験機器にスパークに基づき放電する試験方法
2)接触放電法(Contact Discharge Method)
-試験発生器の電力を被試験機器に接続した状態で正電気放電試験発生機内の放電スウィッチに基づき放電する試験方法
-正電気(ESD)試験基準-
表1 – 試験レベル
1a - 接触放電 | 1b – 空気中放電 | ||
水準 | 試験電圧 kV |
水準 | 試験電圧 kV |
1 2 3 4 X¹ |
2 4 6 8 例外 |
1 2 3 4 X¹ |
2 4 6 8 例外 |
1.“X”は開放レベル、レベルは提供された機器の規定によって特別に規定される必要がある。 もし規定されたものより電圧が高い時は特殊な試験装備が必要だ。 |
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